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椭圆封頭拼焊缝的一些问题

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  在现行各种封頭中,标准椭圆封頭以其制造加工容易,应力分布状况理想以及节省材料等优点而被广泛使用。封頭拼接焊缝属A类,从椭圆封頭的制造来看,一般是先拼接后压制成型。在压制过程中,内部缺陷可能会延伸,同时又可能产生新缺陷。因此,探伤实际的选择显得非常重要。有明确规定说:成型后的封頭应在形状检查合格后再进行无损探伤。由于压制成型后的焊缝形状复杂,如果透明方法选择不当,容易造成漏检。通常采用定向曝光机可获得质量较高的检测结果,但此法工作效率低、劳动强度大。如果用周向曝光机或γ源一次透照法,有可能使部分焊缝在透照时的K值超标。这事因为封頭表面各处曲率不同,以致射线对焊缝各处透照厚度比K值也不一样。

  封頭在压制成型时,焊缝可能会在应力作用下开裂而形成裂纹。但射线探伤对横向裂纹的检出有一定局限性,因此提高裂纹检出率是编制封頭射线探伤工艺的重要目标。这事应选取较小的横裂检出角θ。按JB4730要求,纵缝AB级照相K≤1.03,即最大横裂检出角θmax=cos-1(1/1.03)= 13.86°。

  椭圆封頭射线探伤的核心问题是横裂检出角θ,而封頭上各点对应的横裂检出角θ和对应焦距主要由射线源位置确定。


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